照明電子領域的 LED 產品種類繁多，應用場景較廣，失效原因也較為復雜，上海擎奧能為照明電子企業(yè)提供定制化的 LED 失效分析服務。針對不同類型的照明 LED，如室內照明、戶外照明、景觀照明等，公司會根據其使用環(huán)境和性能要求制定個性化的分析方案。團隊通過先進的設備測定 LED 的光通量、色溫、顯色指數等光學參數變化，結合材料分析確定失效的化學和物理原因，如戶外照明 LED 因雨水侵蝕導致的短路、室內照明 LED 因散熱不良引起的光衰等。同時，結合產品的全生命周期數據，為企業(yè)提供產品改進和質量提升的專業(yè)建議，助力照明電子企業(yè)提升產品競爭力。通過材料分析確定 LED 失效的關鍵影響因素。楊浦區(qū)加工LED失效分析功能
LED 芯片本身的失效分析是上海擎奧的技術強項之一，依托 20% 碩士及博士組成的研發(fā)團隊，可實現從芯片級到系統級的全鏈條分析。針對某批 LED 芯片的突然失效，技術人員通過探針臺測試芯片的 I-V 曲線，發(fā)現反向漏電流異常增大，結合掃描電鏡觀察到芯片表面的微裂紋，追溯到外延生長過程中的應力集中問題。對于 LED 芯片的光效衰減失效，團隊利用光致發(fā)光光譜儀分析量子阱的發(fā)光效率變化，配合 X 射線衍射儀檢測晶格失配度，精確定位材料生長缺陷導致的性能退化。這些深入的芯片級分析為上游制造商提供了寶貴的改進方向。楊浦區(qū)加工LED失效分析功能擎奧檢測具備 LED 快速失效分析技術能力。
上海擎奧的 LED 失效分析團隊由 30 余名可靠性設計工程、可靠性試驗和材料失效分析人員組成，其中行家團隊 10 余人，碩士及博士占比 20%，為高質量的分析服務提供了堅實的人才保障。團隊成員具備豐富的行業(yè)經驗和深厚的專業(yè)知識，熟悉各類 LED 產品的結構原理和失效模式。在開展分析工作時，團隊會充分發(fā)揮多學科交叉的優(yōu)勢，從材料學、物理學、電子工程等多個角度對 LED 失效問題進行深入研究。通過嚴謹的測試流程、科學的數據分析方法和豐富的實踐經驗，確保每一份分析報告的準確性和可靠性，為客戶提供專業(yè)、高效的技術支持，幫助客戶解決 LED 產品在研發(fā)、生產和使用過程中遇到的各類失效難題。
在 LED 失效分析過程中，上海擎奧注重將環(huán)境測試數據與失效分析結果相結合，提高分析的準確性和科學性。公司擁有先進的環(huán)境測試設備，可模擬高溫、低溫、高低溫循環(huán)、濕熱、振動、沖擊等多種環(huán)境條件，對 LED 產品進行可靠性試驗。在獲取大量環(huán)境測試數據后，分析團隊會將這些數據與 LED 產品的失效現象進行關聯研究，探究不同環(huán)境因素對 LED 失效的影響規(guī)律，如高溫環(huán)境下 LED 光衰速度的變化、振動環(huán)境下焊點失效的概率等。通過這種結合，能夠更多維地了解 LED 產品的失效機制，為客戶提供更具針對性的解決方案，幫助客戶設計出更適應復雜環(huán)境的 LED 產品。解析 LED 光學性能衰退的失效機理。
在 LED 驅動電源失效分析中，擎奧檢測展現出跨領域技術整合能力。通過對失效電源模塊進行電路仿真與實物測試對比，工程師發(fā)現電解電容干涸、MOS 管擊穿等問題常與紋波電流過大相關。實驗室配備的功率分析儀可捕捉微秒級電流波動，配合熱仿真軟件還原器件溫升曲線，終確定失效與散熱設計缺陷的關聯性。這種 “測試 + 仿真” 的雙軌分析模式，已幫助多家照明企業(yè)將產品壽命提升 30% 以上。面對 LED 顯示屏的死燈現象，擎奧檢測建立了分級排查體系。初級檢測通過光學顯微鏡觀察封裝引腳是否氧化，中級檢測采用超聲掃描顯微鏡（SAM）檢測芯片與基板的結合缺陷，高級檢測則通過失效物理分析確定是否存在靜電損傷（ESD）。30 余人的技術團隊可同時處理 50 批次以上的失效樣品，結合客戶提供的生產工藝參數，追溯從固晶、焊線到封裝的全流程潛在風險點，形成閉環(huán)改進方案。擎奧檢測助力客戶解決 LED 產品失效難題。楊浦區(qū)加工LED失效分析功能
專業(yè)團隊研究 LED 封裝膠老化失效問題。楊浦區(qū)加工LED失效分析功能
針對低溫環(huán)境下 LED 產品的失效問題，上海擎奧開展專項研究并提供專業(yè)分析服務。公司的環(huán)境測試設備可精確模擬零下幾十度的低溫環(huán)境，測試 LED 在低溫啟動、持續(xù)工作時的性能變化，如亮度驟降、啟動困難、電路故障等。團隊結合材料分析，檢測 LED 封裝膠、線路板在低溫下的物理性能變化，如封裝膠脆化開裂、線路板收縮導致的焊點脫落等。通過分析低溫對 LED 各部件的影響機制，為企業(yè)提供低溫適應性改進方案，確保產品在寒冷地區(qū)的正常使用。楊浦區(qū)加工LED失效分析功能
