LED 驅(qū)動(dòng)電路是 LED 產(chǎn)品的重心組成部分，其失效往往會(huì)導(dǎo)致整個(gè) LED 產(chǎn)品無(wú)法正常工作，上海擎奧在 LED 驅(qū)動(dòng)電路失效分析方面擁有專(zhuān)業(yè)的技術(shù)能力。公司配備了先進(jìn)的電學(xué)參數(shù)測(cè)試設(shè)備，可對(duì)驅(qū)動(dòng)電路的電壓、電流、功率等參數(shù)進(jìn)行精確測(cè)量，結(jié)合材料分析技術(shù)對(duì)電路中的元器件進(jìn)行微觀檢測(cè)，分析其失效原因，如電容老化、電阻燒毀、芯片損壞等。團(tuán)隊(duì)會(huì)運(yùn)用失效物理原理，深入研究驅(qū)動(dòng)電路在不同工作條件下的失效機(jī)制，如過(guò)電壓、過(guò)電流、高溫等因素對(duì)電路性能的影響。通過(guò)系統(tǒng)的分析，為客戶(hù)提供驅(qū)動(dòng)電路設(shè)計(jì)改進(jìn)、元器件選型等方面的專(zhuān)業(yè)建議，提高 LED 產(chǎn)品的可靠性。結(jié)合材料分析確定 LED 失效的關(guān)鍵節(jié)點(diǎn)。楊浦區(qū)智能LED失效分析

針對(duì) UV LED 的失效分析，擎奧檢測(cè)建立了特殊的安全防護(hù)測(cè)試環(huán)境。某款 UV 固化燈在使用過(guò)程中出現(xiàn)功率驟降，技術(shù)人員在防護(hù)等級(jí)達(dá) Class 3B 的紫外實(shí)驗(yàn)室中，用光譜輻射計(jì)監(jiān)測(cè)不同使用階段的功率變化，同時(shí)通過(guò) X 射線(xiàn)衍射分析 AlGaN 外延層的晶體結(jié)構(gòu)變化。結(jié)果表明，長(zhǎng)期工作導(dǎo)致的有源區(qū)量子阱退化是主要失效機(jī)理，而這與散熱基板的熱導(dǎo)率不足直接相關(guān)。基于分析結(jié)論，團(tuán)隊(duì)推薦客戶(hù)采用金剛石導(dǎo)熱基板，使產(chǎn)品的使用壽命延長(zhǎng) 3 倍以上。Mini LED 背光模組的失效分析對(duì)檢測(cè)精度提出了極高要求，擎奧檢測(cè)的超景深顯微鏡和探針臺(tái)系統(tǒng)在此發(fā)揮了關(guān)鍵作用。某型號(hào)電視背光出現(xiàn)局部暗斑，技術(shù)人員通過(guò)微米級(jí)定位系統(tǒng)觀察到部分 Mini LED 的焊盤(pán)存在虛焊現(xiàn)象，這源于回流焊過(guò)程中焊膏量控制不均。利用 3D 錫膏檢測(cè)設(shè)備對(duì)來(lái)料進(jìn)行驗(yàn)證，發(fā)現(xiàn)焊膏印刷的標(biāo)準(zhǔn)差超過(guò)了工藝要求的 2 倍。團(tuán)隊(duì)隨即協(xié)助客戶(hù)優(yōu)化了鋼網(wǎng)開(kāi)孔設(shè)計(jì)，將焊膏量的 CPK 值從 1.2 提升至 1.6，徹底解決了虛焊問(wèn)題。虹口區(qū)附近LED失效分析案例擎奧檢測(cè)的 LED 失效分析覆蓋多應(yīng)用領(lǐng)域。

切實(shí)可行的解決方案。擎奧檢測(cè)的材料失效分析人員在 LED 封裝失效領(lǐng)域頗具話(huà)語(yǔ)權(quán)。LED 封裝過(guò)程中，膠體氣泡、引腳氧化、熒光粉分布不均等問(wèn)題都可能導(dǎo)致后期失效。團(tuán)隊(duì)通過(guò)金相切片技術(shù)觀察封裝內(nèi)部結(jié)構(gòu)，利用能譜儀分析引腳表面的氧化成分，結(jié)合密封性測(cè)試判斷膠體是否存在微裂紋。針對(duì)因封裝工藝缺陷導(dǎo)致的 LED 失效，他們能追溯到生產(chǎn)環(huán)節(jié)的關(guān)鍵參數(shù)，幫助客戶(hù)改進(jìn)封裝流程，從源頭降低失效風(fēng)險(xiǎn)。針對(duì)芯片級(jí) LED 的失效分析，擎奧檢測(cè)配備了專(zhuān)項(xiàng)檢測(cè)設(shè)備和技術(shù)團(tuán)隊(duì)。芯片是 LED 的重心部件，其失效可能源于晶格缺陷、電流集中、靜電損傷等。實(shí)驗(yàn)室通過(guò)探針臺(tái)對(duì)芯片進(jìn)行電學(xué)性能測(cè)試，結(jié)合微光顯微鏡觀察漏電點(diǎn)位置，利用 X 射線(xiàn)衍射儀分析晶格結(jié)構(gòu)完整性。行家團(tuán)隊(duì)能根據(jù)測(cè)試數(shù)據(jù)區(qū)分芯片失效是屬于制造過(guò)程中的固有缺陷，還是應(yīng)用過(guò)程中的不當(dāng)操作導(dǎo)致，為客戶(hù)提供芯片選型建議或使用規(guī)范指導(dǎo)。

在上海浦東新區(qū)金橋開(kāi)發(fā)區(qū)的川橋路 1295 號(hào)，上海擎奧檢測(cè)技術(shù)有限公司以 2500 平米的專(zhuān)業(yè)實(shí)驗(yàn)室為依托，構(gòu)建起 LED 失效分析的完整技術(shù)鏈條。這里配備的先進(jìn)環(huán)境測(cè)試設(shè)備和材料分析儀器，能精確捕捉 LED 從芯片到封裝的細(xì)微異常。針對(duì) LED 常見(jiàn)的光衰、死燈等失效問(wèn)題，實(shí)驗(yàn)室可通過(guò)高低溫循環(huán)、濕熱交變等環(huán)境模擬試驗(yàn)，復(fù)現(xiàn)產(chǎn)品在不同工況下的失效過(guò)程，結(jié)合光譜分析、熱成像檢測(cè)等手段，定位失效的物理根源，為客戶(hù)提供從現(xiàn)象到本質(zhì)的深度解析。結(jié)合可靠性試驗(yàn)結(jié)果深化 LED 失效分析。

針對(duì) LED 產(chǎn)品的全生命周期，上海擎奧提供覆蓋從設(shè)計(jì)研發(fā)到報(bào)廢回收的全程失效分析服務(wù)。在產(chǎn)品設(shè)計(jì)階段，團(tuán)隊(duì)會(huì)結(jié)合可靠性設(shè)計(jì)原理，對(duì) LED 產(chǎn)品可能存在的失效隱患進(jìn)行提前預(yù)判和分析，為設(shè)計(jì)優(yōu)化提供依據(jù)，降低產(chǎn)品后續(xù)失效的風(fēng)險(xiǎn)；在生產(chǎn)環(huán)節(jié)，通過(guò)對(duì)生產(chǎn)過(guò)程中的樣品進(jìn)行失效分析，及時(shí)發(fā)現(xiàn)生產(chǎn)工藝中的問(wèn)題，幫助企業(yè)改進(jìn)生產(chǎn)流程，提高產(chǎn)品質(zhì)量穩(wěn)定性；在產(chǎn)品使用階段，針對(duì)出現(xiàn)的失效問(wèn)題，快速定位原因并提出解決方案，減少客戶(hù)的損失；在報(bào)廢回收階段，通過(guò)失效分析為 LED 產(chǎn)品的回收利用提供技術(shù)支持，促進(jìn)資源的循環(huán)利用。多維度的服務(wù)讓客戶(hù)在 LED 產(chǎn)品的各個(gè)階段都能獲得專(zhuān)業(yè)的技術(shù)*。為 LED 回收利用提供失效分析技術(shù)支持。楊浦區(qū)智能LED失效分析

通過(guò)材料分析確定 LED 失效的關(guān)鍵影響因素。楊浦區(qū)智能LED失效分析

軌道交通領(lǐng)域的 LED 燈具因長(zhǎng)期處于振動(dòng)、粉塵、溫度變化劇烈的環(huán)境中，極易出現(xiàn)失效問(wèn)題，上海擎奧為此提供專(zhuān)業(yè)的失效分析服務(wù)。公司配備的環(huán)境測(cè)試設(shè)備可精細(xì)模擬軌道交通的復(fù)雜環(huán)境，再現(xiàn) LED 燈具可能遇到的各種嚴(yán)苛條件。專(zhuān)業(yè)團(tuán)隊(duì)會(huì)對(duì)失效的軌道交通 LED 燈具進(jìn)行多維拆解，運(yùn)用材料分析技術(shù)檢測(cè)燈具各部件的材質(zhì)變化，結(jié)合失效物理原理分析失效機(jī)制，如振動(dòng)導(dǎo)致的線(xiàn)路松動(dòng)、高溫引起的封裝膠老化等。通過(guò)系統(tǒng)的分析，明確失效的關(guān)鍵影響因素，并為軌道交通企業(yè)提供針對(duì)性的解決方案，幫助其提高 LED 燈具的可靠性和使用壽命，*軌道交通運(yùn)營(yíng)的安全和穩(wěn)定。楊浦區(qū)智能LED失效分析