山東PROSP micro40專譜光電供應(yīng)商

應(yīng)用領(lǐng)域LIBS技術(shù)因其快速、非接觸、無需樣品制備的特點(diǎn)，廣泛應(yīng)用于多個(gè)領(lǐng)域：工業(yè)過程控制：用于冶金、采礦、環(huán)境分析以及航空航天和制藥等專業(yè)材料領(lǐng)域的定量元素分析。材料科學(xué)：用于薄涂層的深度剖析和金屬中夾雜物的微米級映射。環(huán)境監(jiān)測：用于水溶液廢液的連續(xù)原位分析。資源回收：用于鋁合金等金屬材料的快速分類。實(shí)驗(yàn)室研究：用于材料特性分析和質(zhì)量控制。系統(tǒng)特點(diǎn)專譜LIBS系統(tǒng)具有以下特點(diǎn)：高分辨率光譜儀：配備高分辨率光譜儀，能夠提供精確的元素分析。自動(dòng)化控制：通過軟件控制激光能量、脈沖延遲時(shí)間和門控參數(shù)，實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化的數(shù)據(jù)采集和分析。實(shí)時(shí)監(jiān)測：能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)測材料成分的變化，適用于工業(yè)過程的在線監(jiān)測。實(shí)際應(yīng)用案例工業(yè)鋁合金分選：LIBSorter Al系統(tǒng)能夠?qū)旌箱X廢料進(jìn)行快速、精確的分類，每秒可分析40個(gè)樣本，支持24/7全自動(dòng)運(yùn)行。熔體成分實(shí)時(shí)測量：LIBS技術(shù)被用于實(shí)時(shí)測量熔融金屬中的元素成分，提高生產(chǎn)效率和質(zhì)量控制。綜上所述，專譜LIBS系統(tǒng)憑借其快速、非接觸、無需樣品制備的特點(diǎn)，在材料分析和工業(yè)應(yīng)用中展現(xiàn)出巨大的潛力和廣泛的應(yīng)用前景。ProSp顯微系統(tǒng)以其多功能性、高分辨率和靈活的配置，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)、化學(xué)分析等多個(gè)領(lǐng)域。山東PROSP micro40專譜光電供應(yīng)商

ProSp-ELQY 電致發(fā)光量子效率測試系統(tǒng)1.可調(diào)節(jié)高度的樣品支架，在保證操作方便的同時(shí)，保證了每次安裝的位置都相同，降低了人為操作的誤差，提高了整體測試過程中的結(jié)果可靠度。2.模塊化設(shè)備搭建，適用于手套箱內(nèi)安裝，對于制備的材料，可進(jìn)行快速原位量子效率測試，使用更方便。可測參數(shù)：亮度色坐標(biāo)主波長量子效率量子效率隨激發(fā)功率的曲線輻射通量，電流密度。涂層配置PTFE，動(dòng)態(tài)范圍85000:1，配套電致發(fā)光量子效率測試系統(tǒng)**軟件。天津顯微光譜測量系統(tǒng)專譜光電價(jià)格光子晶體領(lǐng)域：測量微小區(qū)域的顏色值或較大區(qū)域的顏色分布。

5. 技術(shù)優(yōu)勢高靈敏度和低噪聲：系統(tǒng)采用高靈敏度的光譜儀和探測器，確保在低光條件下也能獲得高質(zhì)量的光譜數(shù)據(jù)。多種波長選擇：系統(tǒng)支持多種波長的光源，適用于不同的實(shí)驗(yàn)需求。靈活的配置：用戶可以根據(jù)具體需求選擇不同的光譜儀、光源和顯微鏡?？偨Y(jié)專譜光電的 ProSp-Micro 系列顯微光譜測量系統(tǒng)憑借其二維掃描 Mapping 功能、多種光譜測量模式、強(qiáng)大的軟件功能和靈活的配置，在材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)和環(huán)境監(jiān)測等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用前景。其在 Mapping 方面的表現(xiàn)，為研究人員提供了高精度的光譜成像和微觀結(jié)構(gòu)分析工具。

ProSp 角分辨測試系統(tǒng)（ProSp-RTM-UV/VIS）是一款高性能的全角度光譜測量系統(tǒng)，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、微納光學(xué)、生物技術(shù)和礦物分析等領(lǐng)域。以下是其主要功能和應(yīng)用：功能描述全角度測量：接收端角度范圍：0-360°發(fā)射端角度范圍：0-270°高角度分辨率：角度分辨率可達(dá) 0.01°全光譜測量：光譜范圍：250-2500 nm多種測量模式：上反射、下反射、透射、散射、輻射等多種測量模式自動(dòng)測量模式：通過軟件設(shè)置測量模式、接收角范圍、入射角范圍、角度分辨率、循環(huán)次數(shù)、積分時(shí)間等參數(shù)，實(shí)現(xiàn)不同模式的自動(dòng)測量手動(dòng)測量模式：可以任意控制樣品臺的入射角和接收角進(jìn)行光譜測量SERS 基底：用于表面增強(qiáng)拉曼光譜測量，適用于痕量分析和醫(yī)學(xué)診斷。

儀器特點(diǎn)模塊化設(shè)計(jì):不同波長的熒光模塊、拉曼模塊可以選擇，不同的光譜儀和光源可以選擇全光纖結(jié)構(gòu):不同模塊之間的信號通過光纖傳輸，這對于后期的維護(hù)和升級非常有利;光譜測量范圍寬:根據(jù)不同配置，光譜范圍可以蓋250-2500nm;空間分辨率高:在100X物鏡下，光譜采集區(qū)域可以小到2um;二維掃描:可以配二維掃描臺，實(shí)現(xiàn)Mapping測量功能;軟件功能強(qiáng)大:軟件集成了光譜儀、二維掃描臺、CCD相機(jī)和光源，可以做二維掃描光譜測量;軟件可以做反射、熒光、拉曼、相對輻射、***輻射等光譜測量;操作軟件能實(shí)現(xiàn)2臺不同波段光譜儀的拼接測量;可以做光譜時(shí)序圖測量;可以做時(shí)間-波長-強(qiáng)度(反射率透過率、輻射強(qiáng)度、拉曼強(qiáng)度、熒光強(qiáng)度等)測量;激光誘導(dǎo)電流LBC測量;光致量子效率和電致量子效率測量;軟件可以在CCD上直接選取掃描區(qū)域，可以方便的在視場中選取某個(gè)感興趣的點(diǎn)，該點(diǎn)在軟件控制下，自動(dòng)移動(dòng)到光斑照射位置，并進(jìn)行光譜測量。調(diào)試方便:整個(gè)系統(tǒng)的光路，客戶可以自行調(diào)節(jié)(通過外部調(diào)節(jié))，使儀器在任何時(shí)候都處于比較好狀態(tài)。成像軟件：實(shí)時(shí)觀察物體圖像，捕獲保存圖像或錄像，更改相機(jī)曝光增益參數(shù)，后期處理圖像。大連薄膜材料專譜光電供應(yīng)商

光譜儀：用于檢測光譜信號。 激光器：提供熒光和拉曼測量所需的激發(fā)光源。山東PROSP micro40專譜光電供應(yīng)商

杭州專譜光電技術(shù)有限公司（Hangzhou SPL Photonics Co., Ltd.）是一家專注于光譜儀器、激光器系統(tǒng)及配件、生物光學(xué)和量子光學(xué)等領(lǐng)域的企業(yè)。公司提供多種高性能的光電產(chǎn)品和解決方案，廣泛應(yīng)用于科研、工業(yè)和環(huán)境監(jiān)測等領(lǐng)域。1. 光譜儀器專譜光電提供多種光譜儀器，包括：顯微光譜測量系統(tǒng)：如 ProSp-Micro 系列，集成了反射、熒光和拉曼光譜測量功能，適用于多種科研應(yīng)用。角分辨光譜測量系統(tǒng)：用于測量材料的反射率、透射率和散射特性。LIBS 光譜測量系統(tǒng)：用于快速檢測材料的成分。膜厚光譜測量系統(tǒng)：用于測量薄膜的厚度和折射率。2. 激光器系統(tǒng)專譜光電代理多種高性能激光器，包括：半導(dǎo)體激光器：用于多種科研和工業(yè)應(yīng)用。超緊湊納秒激光器：適用于高重復(fù)頻率的實(shí)驗(yàn)。超快激光器：用于需要高時(shí)間分辨率的實(shí)驗(yàn)。窄線寬激光器：適用于需要高光譜分辨率的應(yīng)用山東PROSP micro40專譜光電供應(yīng)商