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該測試方法包括以下步驟:s1:將多個(gè)待測試芯片放置于多個(gè)tray盤中,每一個(gè)tray盤中放置多個(gè)待測試芯片,將多個(gè)tray盤放置于自動(dòng)上料裝置40,并在自動(dòng)下料裝置50及不良品放置臺60上分別放置一個(gè)空tray盤。例如每一個(gè)tray盤較多可放置50個(gè)芯片,則在自動(dòng)上料裝置40的每一個(gè)tray盤中放置50個(gè)芯片,然后可以將10個(gè)裝滿芯片的tray盤放置于自動(dòng)上料裝置40上,且10個(gè)tray盤上下疊放。s2:移載裝置20從自動(dòng)上料裝置40的tray盤中取出待測試芯片移載至測試裝置30進(jìn)行測試。利用芯片測試機(jī),可以減少制造過程中的失敗率。湖南推拉力芯片測試機(jī)行價(jià)
做一款芯片較基本的環(huán)節(jié)是設(shè)計(jì)->流片->封裝->測試,芯片成本構(gòu)成一般為人力成本20%,流片40%,封裝35%,測試5% 測試其實(shí)是芯片各個(gè)環(huán)節(jié)中較“便宜”的一步,在這個(gè)每家公司都喊著“Cost Down”的激烈市場中,人力成本逐年攀升,晶圓廠和封裝廠都在乙方市場中“叱咤風(fēng)云”,唯獨(dú)只有測試顯得不那么難啃,Cost Down的算盤落到了測試的頭上。但仔細(xì)算算,測試省50%,總成本也只省2.5%,流片或封裝省15%,測試就相當(dāng)于不收費(fèi)了。但測試是產(chǎn)品質(zhì)量然后一關(guān),若沒有良好的測試,產(chǎn)品PPM過高,退回或者賠償都遠(yuǎn)遠(yuǎn)不是5%的成本能表示的。安徽CPU芯片測試機(jī)平臺芯片測試機(jī)能夠進(jìn)行快速芯片測試評估。
本發(fā)明的目的在于提供一種芯片測試機(jī)及芯片測試方法,本發(fā)明的芯片測試機(jī)的結(jié)構(gòu)緊湊、體積較小,占地面積只一平米左右,可以滿足小批量的芯片測試要求。其技術(shù)方案如下:本發(fā)明在一實(shí)施例中公開了一種芯片測試機(jī)。該芯片測試機(jī)包括機(jī)架,以及設(shè)置于機(jī)架上的移載裝置、測試裝置、自動(dòng)上料裝置、自動(dòng)下料裝置及不良品放置臺,所述自動(dòng)上料裝置包括頭一料倉及自動(dòng)上料機(jī)構(gòu),所述自動(dòng)上料機(jī)構(gòu)在所述頭一料倉內(nèi)上下移動(dòng);所述自動(dòng)下料機(jī)構(gòu)包括第二料倉及自動(dòng)下料機(jī)構(gòu),所述自動(dòng)下料機(jī)構(gòu)在所述第二料倉內(nèi)上下移動(dòng),所述移載裝置位于所述自動(dòng)上料裝置、自動(dòng)下料裝置、測試裝置及不良品放置臺的上方,所述移載裝置將自動(dòng)上料裝置的待測試芯片移動(dòng)至測試裝置,并將測試完成的芯片移動(dòng)至自動(dòng)下料裝置或不良品放置臺,所述移載裝置還將自動(dòng)上料裝置的空tray盤移動(dòng)至自動(dòng)下料裝置。
在開始芯片測試流程之前應(yīng)先充分了解芯片的工作原理。要熟悉它的內(nèi)部電路,主要參數(shù)指標(biāo),各個(gè)引出線的作用及其正常電壓。diyi部工作做的好,后面的檢查就會順利很多。芯片很敏感,所以測試的時(shí)候要注意不要引起引腳之間的短路,任何一瞬間的短路都能被捕捉到,從而造成芯片燒壞。另外,如果沒有隔離變壓器時(shí),是嚴(yán)禁用已經(jīng)接地的測試設(shè)備去碰觸底盤帶電的設(shè)備,因?yàn)檫@樣容易造成電源短路,從而波及普遍,造成故障擴(kuò)大化。焊接時(shí),要保證電烙鐵不帶電,焊接時(shí)間要短,不堆焊,這樣是為了防止焊錫粘連,從而造成短路。但是也要確定焊牢,不允許出現(xiàn)虛焊的現(xiàn)象。在有些情況下,發(fā)現(xiàn)多處電壓發(fā)生變化,此時(shí)不要輕易下結(jié)論就是芯片已經(jīng)壞掉了。要知道某些故障也能導(dǎo)致各個(gè)引腳電壓測試下來與正常值一樣,這時(shí)候也不要輕易認(rèn)為芯片就是好的。芯片測試機(jī)提供了可靠的測試跟蹤,幫助工程師快速定位測試問題。
DC/AC Test,DC測試包括芯片Signal PIN的Open/Short測試,電源PIN的PowerShort測試,以及檢測芯片直流電流和電壓參數(shù)是否符合設(shè)計(jì)規(guī)格。AC測試檢測芯片交流信號質(zhì)量和時(shí)序參數(shù)是否符合設(shè)計(jì)規(guī)格。RF Test,對于無線通信芯片,RF的功能和性能至關(guān)重要。CP中對RF測試來檢測RF模塊邏輯功能是否正確。FT時(shí)還要對RF進(jìn)行更進(jìn)一步的性能測試。其他Function Test,芯片其他功能測試,用于檢測芯片其他重要的功能和性能是否符合設(shè)計(jì)規(guī)格。CP測試的目的就是在封裝前就把壞的芯片篩選出來,以節(jié)省封裝的成本。同時(shí)可以更直接的知道Wafer 的良率。CP測試可檢查fab廠制造的工藝水平。芯片測試機(jī)可用于快速排除芯片制造中的錯(cuò)誤。安徽CPU芯片測試機(jī)平臺
芯片測試機(jī)可以進(jìn)行集成電路的質(zhì)量檢測。湖南推拉力芯片測試機(jī)行價(jià)
芯片測試的過程是將封裝后的芯片置于各種環(huán)境下測試其電氣特性,如消耗功率、運(yùn)行速度、耐壓度等。經(jīng)測試后的芯片,依其電氣特性劃分為不同等級。而特殊測試則是根據(jù)客戶特殊需求的技術(shù)參數(shù),從相近參數(shù)規(guī)格、品種中拿出部分芯片,做有針對性的專門測試,看是否能滿足客戶的特殊需求,以決定是否須為客戶設(shè)計(jì)專門使用芯片。經(jīng)一般測試合格的產(chǎn)品貼上規(guī)格、型號及出廠日期等標(biāo)識的標(biāo)簽并加以包裝后即可出廠。而未通過測試的芯片則視其達(dá)到的參數(shù)情況定作降級品或廢品。湖南推拉力芯片測試機(jī)行價(jià)
深圳市泰克光電科技有限公司依托可靠的品質(zhì),旗下品牌TEC-PHO,SHIBUYA,Oh'TEC以高質(zhì)量的服務(wù)獲得廣大受眾的青睞。是具有一定實(shí)力的能源企業(yè)之一,主要提供探針臺,芯片測試機(jī),藍(lán)膜編帶機(jī),分光編帶機(jī)等領(lǐng)域內(nèi)的產(chǎn)品或服務(wù)。隨著我們的業(yè)務(wù)不斷擴(kuò)展,從探針臺,芯片測試機(jī),藍(lán)膜編帶機(jī),分光編帶機(jī)等到眾多其他領(lǐng)域,已經(jīng)逐步成長為一個(gè)獨(dú)特,且具有活力與創(chuàng)新的企業(yè)。深圳市泰克光電科技有限公司業(yè)務(wù)范圍涉及半導(dǎo)體器件及LED發(fā)光二極管及生產(chǎn)設(shè)備,半導(dǎo)體及LED發(fā)光二極管的封裝材料的研發(fā)與銷售,半導(dǎo)體器件檢測儀器的軟件開發(fā)及銷售;國內(nèi)貿(mào)易、貨物及技術(shù)進(jìn)出口。(法律、行政法規(guī)決定禁止的項(xiàng)目除外,限制的項(xiàng)目須取得許可后方可經(jīng)營)半導(dǎo)體器件及LED發(fā)光二極管及生產(chǎn)設(shè)備,半導(dǎo)體及LED發(fā)光二極管的封裝材料,半導(dǎo)體器件檢測儀器的軟件生產(chǎn)。等多個(gè)環(huán)節(jié),在國內(nèi)能源行業(yè)擁有綜合優(yōu)勢。在探針臺,芯片測試機(jī),藍(lán)膜編帶機(jī),分光編帶機(jī)等領(lǐng)域完成了眾多可靠項(xiàng)目。