相城區(qū)耐用雙頻激光干涉儀產(chǎn)品介紹

來源: 發(fā)布時(shí)間:2025-07-22

干涉圖樣分析:通過觀察干涉條紋的變化,可以獲取關(guān)于物**移、形狀、厚度等信息。激光干涉儀廣泛應(yīng)用于精密測量、材料科學(xué)、光學(xué)研究、工程檢測等領(lǐng)域。常見的類型包括邁克爾遜干涉儀、法布里-佩**涉儀和激光位移傳感器等。由于其高精度和高靈敏度,激光干涉儀在科學(xué)研究和工業(yè)應(yīng)用中都具有重要的地位。干涉儀是一種用于測量光波或其他波動現(xiàn)象的儀器,利用干涉原理來分析波的特性。干涉是指兩束或多束波在空間中相遇時(shí)相互疊加,形成新的波形的現(xiàn)象。干涉儀廣泛應(yīng)用于物理學(xué)、工程學(xué)、光學(xué)等領(lǐng)域。在科學(xué)研究和工業(yè)檢測中,干涉儀是一種非常重要的工具。相城區(qū)耐用雙頻激光干涉儀產(chǎn)品介紹

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折射率測定兩光束的幾何路程保持不變,介質(zhì)折射率變化也可導(dǎo)致光程差的改變,從而引起條紋移動。瑞利干涉儀就是通過條紋移動來對折射率進(jìn)行相對測量的典型干涉儀。應(yīng)用于風(fēng)洞的馬赫-秦特干涉儀被用來對氣流折射率的變化進(jìn)行實(shí)時(shí)觀察。波長的測量任何一個(gè)以波長為單位測量標(biāo)準(zhǔn)米尺的方法也就是以標(biāo)準(zhǔn)米尺為單位來測量波長的方法。以國際米為標(biāo)準(zhǔn),利用干涉儀可精確測定光波波長。法布里-珀**涉儀(標(biāo)準(zhǔn)具)曾被用來確定波長的初級標(biāo)準(zhǔn)(鎘紅譜線波長)和幾個(gè)次級波長標(biāo)準(zhǔn),從而通過比較法確定其他光譜線的波長。相城區(qū)耐用雙頻激光干涉儀產(chǎn)品介紹用穩(wěn)頻的氦氖激光器作為光源,由于它的相干長度很大,干涉儀的測量范圍可以擴(kuò)展;

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雙頻激光干涉儀是在單頻激光干涉儀的基礎(chǔ)上發(fā)展而來的一種外差式干涉儀,以下是對其的詳細(xì)介紹:一、基本原理雙頻激光干涉儀利用兩束頻率相近的激光,通過分束后分別作為參考光和測量光。測量光經(jīng)移動目標(biāo)反射后與參考光疊加產(chǎn)生多普勒頻移差頻信號,通過檢測差頻的變化來計(jì)算位移量。具體來說:雙頻生成:激光器產(chǎn)生兩束頻率相近的激光(如利用塞曼效應(yīng)或聲光調(diào)制),頻率分別為f1和f2。分束干涉:光束經(jīng)分光鏡分為兩路,一路為參考光(頻率穩(wěn)定),另一路為測量光(頻率經(jīng)被測物**移產(chǎn)生多普勒頻移Δf)。

非接觸式測量:激光干涉儀可以不接觸物體表面就測量其形狀,這對于測量易碎或精細(xì)的物體非常有用。多功能性:激光干涉儀可配合各種折射鏡、反射鏡等來作線性位置、速度、角度、真平度、真直度、平行度和垂直度等測量工作??垢蓴_能力強(qiáng):雙頻激光干涉儀對由光強(qiáng)變化引起的直流電平變化不敏感,因此抗干擾能力強(qiáng)。五、注意事項(xiàng)與維護(hù)注意事項(xiàng):儀器應(yīng)放置在干燥、清潔以及無振動的環(huán)境中應(yīng)用。在移動儀器時(shí),應(yīng)托住底座以防止導(dǎo)軌變形。光學(xué)零件在不用時(shí),應(yīng)在清潔干燥的器皿中進(jìn)行存放以防止發(fā)霉。它通過多次反射在兩個(gè)平面鏡之間形成干涉。

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另一方面,當(dāng)可動棱鏡移動時(shí),前者的干涉信號是在**亮和**暗之間緩慢變化的信號,而后者的干涉信號是使原有的交流信號頻率增加或減少了△f,結(jié)果依然是一個(gè)交流信號。因而對于雙頻激光干涉儀來說,可用放大倍數(shù)較大的交流放大器對干涉信號進(jìn)行放大,這樣,即使光強(qiáng)衰減90%,依然可以得到合適的電信號。精度高雙頻激光干涉儀以波長作為標(biāo)準(zhǔn)對被測長度進(jìn)行度量的儀器。即使不做細(xì)分也可達(dá)到μm量級,細(xì)分后更可達(dá)到nm量級。應(yīng)用范圍廣雙頻激光干涉儀除了可用于長度的精密測量外,配上適當(dāng)?shù)母郊€可測量角度、直線度、平面度、振動距離及速度等等它通過將光束分成兩部分,分別經(jīng)過不同的路徑后再合并,形成干涉圖樣。相城區(qū)耐用雙頻激光干涉儀產(chǎn)品介紹

法布里-干涉儀:由查爾斯·法布里和阿爾弗雷德·佩羅發(fā)明,主要用于高精度的光譜分析。相城區(qū)耐用雙頻激光干涉儀產(chǎn)品介紹

邁克爾遜干涉儀,是1881年美國物理學(xué)家邁克爾遜和莫雷合作,為研究“以太”漂移而設(shè)計(jì)制造出來的精密光學(xué)儀器。它是利用分振幅法產(chǎn)生雙光束以實(shí)現(xiàn)干涉。通過調(diào)整該干涉儀,可以產(chǎn)生等厚干涉條紋,也可以產(chǎn)生等傾干涉條紋。主要用于長度和折射率的測量,若觀察到干涉條紋移動一條,便是M2的動臂移動量為λ/2,等效于M1與M2之間的空氣膜厚度改變λ/2。在近代物理和近代計(jì)量技術(shù)中,如在光譜線精細(xì)結(jié)構(gòu)的研究和用光波標(biāo)定標(biāo)準(zhǔn)米尺等實(shí)驗(yàn)中都有著重要的應(yīng)用。利用該儀器的原理,研制出多種**干涉儀。 [1]相城區(qū)耐用雙頻激光干涉儀產(chǎn)品介紹

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